ELES打造出了一套特殊的系统，针对内存MEMORIES，全数字或混合信号SOC（片上系统），ADAS（高级驱动器辅助系统），u-EMBEDDED MEMORY，SMART POWER，SMART LED和MEMS（微机电系统）的一套完善的设计，认证和制造开发的解决方案。由于RETE系统实现零缺陷的目标，ELES解决方案和服务广泛的应用于那些以半导体设备的可靠性为安全基础的行业，包括汽车，航空电子，航空航天和国防等市场。不仅如此，ELES带来的RETE创新也应用于更加价格敏感的行业，如工业，通信和物联网。RETE系统的运用可以显著降低设计和生产的成本。现代集成电路中的主要的故障是间歇性故障。这些故障产生的根本原因从制造残留物到电子元器件氧化，都有可能。间歇性故障未必会引发设备错误，具体取决于设备的环境条件。但是当它发生时，设备的状况和由硬件不稳定或设备损耗导致的问题没有什么不同。由于电路设计复杂性的提高和半导体器件的体积的快速扩展，设备错误和故障的预期也同时增加。在传统的可靠性流程中，一般通过对比在对设备施加压力前后从ATE机器获得的执行参数的不同来识别有缺陷的设备。间歇性故障不会被识别，因为只要压力条件存在，它们通常会一直保持活动状态。